Готовые Домашние Задания

Рефераты по теме Фотография

Реферат Измерительный контроль в оптической микроскопии

Скачать реферат↓ [6.09 MB]



Текст реферата Измерительный контроль в оптической микроскопии

БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАТИКИ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ
Кафедра ЭТТ
РЕФЕРАТ
На тему:
"Измерительный контроль в оптической микроскопии"
МИНСК, 2008
1.
Оптическая (световая) микроскопия
Простейшим микроскопом является двухлинзовый микроскоп. На рис.2.
схематично показано как формируется микроскопическое изображение в
системе двух собирающих линз. Первая из них объектив, формирует де й
ствительное увеличенное изображение объекта АВ А’ В’ .
Рис.1. Классификация оптических методов НК
Рис.2. Схема двухлинзового микроскопа
1 объектив; 2 окуляр; 3 измерительная шкала или сетка
Изображение А'В' затем рассматривается в окуляр (вторая линза), и
окончательное изображение А"В", получаемое при этом, является мнимым.
Формированию изображения в световом микроскопе сопутствуют, согласно
теории Аббе, два эффекта, снижающих разрешающую способность: сначала
дифракция света на микроскопических деталях объекта, затем, после прох
о ждения дифрагированных лучей через линзу, их интерференция. Эти эффе
к ты не позволяют изучать микрообъекты размером менее 10-6 м.
Чтобы изучать более малые микрообъекты применяют метод "тёмного поля"
(рис.3). Его принцип состоит в том, что исследуемый прозрачный об ъ
ект освещается косыми лучами, которые при отсутствии рассеяния или пр
е ломления не попадают в объектив микроскопа. Если же объект
исследования содержит включения, также прозрачные, но с другим
показателем преломл е ния, то лучи, прошедшие через эти включения и
изменившие своё направл е ние, попадают в объектив и визуализируют их.
Поскольку основная часть световых лучей минует объектив, поле зрения
остаётся тёмным и на его фоне видны светлые изображения
микровключений. В микроскопе, реализующем метод "тёмного поля"
(ультрамикроскопе), видны частицы размером 2*10-9 м. Важными областями
применения ультрамикроскопов является контроль чистоты атмосферы,
воды, поверхностей и т.д. Однако недостатком таких микроскопов
является невозможность измерения геометрических размеров
микровключений и дефектов (они обнаруживаются, но чёткого очертания их
формы не получается).
Рис.3. Образование темнопольного изображения при прямом (а) и к о сом
(б) освещении объекта:
1 осветитель; 2 зеркало; 3 затемняющая пластина; 4 объектив;
5 изображение светлого дефекта на тёмном поле
Одним из перспективных направлений повышения эффективности ко н троля
ИЭТ является использование ультрафиолетовых (УФ) лучей. Основной
эффект при этом заключается в повышении почти в два раза разрешающей
способности УФ микроскопа по сравнению со световым. Имеет место и ещё
один положительный эффект: повышение чёткости изображений. В основу
метода положено явление сильного различия в поглощении УФ лучей ра з
личной длины волны различными веществами.
Снимая микроскопическое изображение одного и того же объекта н е
сколько раз в УФ лучах разной длины волны, можно получить набор ми к
рофотографий, в разной степени отражающих различные детали объекта и с
следования. Затем